Abstract:
Мырыш вольфрамы (ZnWO4) монокристалдары сцинтилляциялық детекторлар мен
оптоэлектрондық құрылғыларда әлеуетті қолдануларына байланысты үлкен қызығушылық тудырды. Бұл материалдардың өнімділігіне радиациядан туындаған ақаулар әсер етуі мүмкін, бұл ақауларды зерттеуді өте маңызды етеді. Бұл жұмыста біз иондаушы сәулеленудің әртүрлі дозаларына ұшыраған ZnWO4 монокристалдарындағы сәулелену ақауларының Раман
спектрлерін зерттейміз. Біз осы ақаулармен байланысты негізгі діріл режимдерін анықтаймыз және радиациялық әсердің жоғарылауымен олардың эволюциясын сипаттайтын модельді ұсынамыз. Біздің қорытындыларымыз Раман спектроскопиясының ZnWO4 монокристалдарындағы радиациядан туындаған ақауларды сипаттайтын бұзылмайтын, жоғары сезімтал әдіс ретінде маңыздылығын көрсетеді.
